分析仪器

X射线衍射散射原位探测系统

发布时间:2025-06-20

仪器型号:DEEP-TXRD_SR1

主要性能指标:
1. 原位XRD数据采集时间分辨率达秒级;
2. 高低温电池原位装置:温度调节范围 -100~100℃,控温精 ±1°,角度0<2θ<90°;
3. 电化学原位测试模块:XRD衍射角范围0<2θ<90°,光路方向液体厚度调节范围0~20mm,空载条件下X射线透过率 ≥70%@8Kev,工作温度范围 RT-200℃,控温精度 ±1℃,加热速率 ≤15℃/min;
4. 晶体生长原位测试模块:窗口通光直径≥4mm,出射张角2θ≤9

0°,液体厚度可调0~10mm,空载条件下X射线透过率≥50%@8Kev,水冷接口∅6mm。

功能:仪器能够实现秒级时间分辨的原位 XRD数据采集功能,相比于反射式衍射具有更好地空间分辨和时间分辨能力。仪器内部空间上能够容纳不同应用场景,如高低温环境场、电磁场、力学场等各类原位反应测试装置。