台阶仪是一款精密表面轮廓测量设备。它基于触针扫描原理，通过细径触针接触被测样品表面，随表面台阶与轮廓的起伏产生位移变化。设备将位移信号转换为电信号后快速解析，实时生成表面轮廓曲线、台阶高度数据及粗糙度参数，直观可视化表面的台阶差、微观形貌及起伏形态，精准呈现被测样品的表面几何特性。在半导体芯片光刻台阶检测、材料科学薄膜厚度台阶测量、精密机械零件表面轮廓质控、光学器件涂层台阶评估等涉及表面微观几何形貌分析的生产科学实验研究中均可使用。